快走絲報價單，相對于X-射線，電子束由于具有更短的波長以及更強的衍射，因此電子衍射SAED應用于納米晶體的結構分析具有特別的意義，透射電鏡不僅可對納米晶體進行高分辨成像而且可進行電子衍射分析，已成為納米晶體材料不可或缺的研究方法，包括判斷納米結構的生長方向、解析納米晶體的晶胞參數及原子的排列結構等。

快走絲報價單，應用方向：判斷已知納米結構的生長方向，具體的方法是：首先拍攝形貌像，并且在同一位置做電子衍射，在形貌像上找出優勢生長面，與電子衍射花樣對照，找出與透射斑連線垂直于此晶面的透射斑，并進行標定，根據晶面指數換算出生長方向。

快走絲報價單，晶帶正空間與倒空間對應關系圖，某金屬氧化物一維納米線的透射電鏡及電子衍射圖，手動解析納米晶體的晶體結構參數，此種方法需要手動傾轉樣品，兩個方向配合轉到正帶軸，快走絲報價單，在旋轉過程中要將樣品移回原位，因此需要操作者有足夠的經驗，而且要花費一定的時間，對于不耐電子束輻照的樣品如有機晶體很難得到足夠多的正帶軸的電子衍射花樣。